CRDR綜合測(cè)試板
簡(jiǎn)要描述:CRDR綜合測(cè)試板,用于所有類型的CR和DR成像系統(tǒng)質(zhì)量檢測(cè)。可以同時(shí)檢測(cè)以下參數(shù)∶空間分辨率、低對(duì)比度分辨率、動(dòng)態(tài)范圍、光野和照射野一致性、空間距離準(zhǔn)確性。模體的結(jié)構(gòu)∶1mm厚銅質(zhì)基板(310×310x10mm);
- 產(chǎn)品型號(hào):訂制
- 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間:2024-03-24
- 訪 問(wèn) 量:452
CRDR綜合測(cè)試板
產(chǎn)品編號(hào):SY20240322-7 CRDR綜合測(cè)試板
產(chǎn)品廠家:廊坊玉雙儀器設(shè)備有限公司
產(chǎn)品介紹:主要技術(shù)參數(shù):
1、用于所有類型的CR和DR成像系統(tǒng)質(zhì)量檢測(cè)。可以同時(shí)檢測(cè)以下參數(shù)∶空間分辨率、低對(duì)比度分辨率、動(dòng)態(tài)范圍、光野和照射野一致性、空間距離準(zhǔn)確性。
2、模體的結(jié)構(gòu)∶1mm厚銅質(zhì)基板(310×310x10mm);
3、動(dòng)態(tài)范圍∶9階不同射線吸收系數(shù)的步進(jìn)式楔形梯∶0.00,0.25,0.5,0.75,1.00,1.35,1.7,2.4 mmCu;
4、低對(duì)比度細(xì)節(jié)∶兩組直徑分別為10mm、6mm排列的低對(duì)比度細(xì)節(jié)(共14階)∶由直徑為10mm、6mm的鋁質(zhì)圓盤組成,兩組對(duì)比度范圍均為∶0.8%,1.2%,1.6%,2.0%,2.8%,4.0%,5.6%。5、空間分辨率∶0.6-5.0 lp/mm,線對(duì)卡可旋轉(zhuǎn),以便完成兩種45°方向的分辨率測(cè)量、水平或垂直方向的空間分辨率檢測(cè)
6、光野照射野一致性∶X、Y坐標(biāo)軸方向,
7、標(biāo)尺范圍∶26×26cm。
8、空間距離準(zhǔn)確性∶標(biāo)準(zhǔn)100X100mm空間尺寸,用于檢測(cè)幾何空間失真
產(chǎn)品編碼:SY20240322-7 CRDR綜合測(cè)試模體
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